本平臺可提供以下測試服務：
（1）穩態發射光譜：包括紫外、可見激發和發射光譜；紅外發射光譜；穩態3D光譜；穩態各向異性譜；同步光譜等。
（2）瞬態發射光譜：包括微秒-秒量級熒光壽命；上轉換發光熒光壽命；3D瞬態光譜等。
（3）熱力學相關發射光譜：低溫穩態光譜；低溫瞬態光譜；變溫穩態和瞬態光譜等。
（4）發光材料和器件性能測試：包括發光材料下轉換絕對量子產率測試；上轉換發光絕對量子產率測試；發光材料熒光熱穩定性測試；發光器件流明效率、色溫、顯色指數以及光度分布等光電指標測試等。
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系統
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設備圖片
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設備/型號
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簡介
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光源系統
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OPO激光器Optical Parametric Oscillator NT242-1K-SH/SFG-SCU-H/2H
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調諧波段：210-2600 nm
重復頻率：1-1000 Hz
線寬： < 5cm-1
脈沖寬度：3 - 6 ns
能量輸出：> 40 μJ
應用領域：通過非線性介質的光參量放大效應，結合參量振蕩器的頻率調諧，實現連續寬波段激光輸出，用于多能級躍遷、熒光壽命、熒光光譜及相關光學性能研究。
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變溫系統
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低溫制冷系統/冷熱臺Linkam LNP95
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溫控范圍：77 - 800 K
制冷速率：
100 K/Min (fast)
0.01 K/Min (slow)
應用領域：控制樣品溫度77-800K，與熒光光譜儀、光纖光譜儀、多光子顯微成像系統等儀器聯用，研究不同溫度下材料特性、激發光譜、發射光譜。
可聯用儀器：
熒光光譜儀
光纖光譜儀
多光子顯微成像系統
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光譜測試系統
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光纖光譜儀QE65PRO HR4000
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QE65PRO-1 /QE65PRO-2
探測器類型：背照式面陣
信噪比：1000 : 1
探測范圍：240-420/420-775 nm
分辨率：0.3/0.6 nm
HR4000-1/HR4000-2
探測器類型：線陣CCD
信噪比：300 : 1
探測范圍：220-665/660-1080 nm
分辨率：0.5 nm
應用領域：真空室鍍膜、材料成分檢測、熒光測試、實驗過程實時監控、動力學研究。
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激光誘導瞬態光譜測試系統
LP980
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可實現檢測功能：
瞬態吸收、激光有道熒光、激光誘導擊穿光譜、拉曼光譜
光源波長：
Probe 230-900nm
Pump 210-2600nm
光譜探測波長：230-870 nm
光譜分辨率：≤ 0.56nm
靈敏度（OD值）：<0.0005（單次、慢檢）
雜散光抑制比：≤ 1:105
應用領域：瞬態吸收、激光誘導熒光、激光誘導擊穿光譜、拉曼光譜、反應速率研究、三重態-三重態猝滅、電荷載流子動力學、時間分辨光譜、激光誘導擊穿光譜等。
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熒光光譜測試系統
FLS980
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可實現測試功能：
激發譜、發射譜、同步熒光譜、3D熒光譜、熒光壽命、量子產率
波長范圍（可拓展）：
Ex:200-2000 nm
Em:200-1010 nm
光子計數率：100 MHz
波長準確度： ± 0.2 nm
分辨率min：0.05 nm
信噪比@Water Raman：
≥ 12000:1
應用領域：激發光譜、發射光譜、同步熒光譜、3D熒光譜、熒光壽命、材料特性分析及相關光學性能研究。
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