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光電功能材料檢測平臺

光電功能材料檢測平臺簡介

副標題:

    本平臺可提供以下測試服務:
 
    (1)穩態發射光譜:包括紫外、可見激發和發射光譜;紅外發射光譜;穩態3D光譜;穩態各向異性譜;同步光譜等。

    (2)瞬態發射光譜:包括微秒-秒量級熒光壽命;上轉換發光熒光壽命;3D瞬態光譜等。

    (3)熱力學相關發射光譜:低溫穩態光譜;低溫瞬態光譜;變溫穩態和瞬態光譜等。

    (4)發光材料和器件性能測試:包括發光材料下轉換絕對量子產率測試;上轉換發光絕對量子產率測試;發光材料熒光熱穩定性測試;發光器件流明效率、色溫、顯色指數以及光度分布等光電指標測試等。
 
 

系統

設備圖片

設備/型號

簡介

光源系統

OPO激光器.JPG

OPO激光器Optical Parametric Oscillator NT242-1K-SH/SFG-SCU-H/2H

 

調諧波段:210-2600 nm

重復頻率:1-1000 Hz

線寬: < 5cm-1

脈沖寬度:3 - 6 ns

能量輸出:> 40 μJ

 

應用領域:通過非線性介質的光參量放大效應,結合參量振蕩器的頻率調諧,實現連續寬波段激光輸出,用于多能級躍遷、熒光壽命、熒光光譜及相關光學性能研究。

 

變溫系統

 

T95+LinkPad+LNP95.jpg

 

低溫制冷系統/冷熱臺Linkam LNP95

 

溫控范圍:77 - 800 K

制冷速率:

100 K/Min (fast)

0.01 K/Min (slow)

 

應用領域:控制樣品溫度77-800K,與熒光光譜儀、光纖光譜儀、多光子顯微成像系統等儀器聯用,研究不同溫度下材料特性、激發光譜、發射光譜。

 

可聯用儀器:

熒光光譜儀

光纖光譜儀

多光子顯微成像系統

 

光譜測試系統

Omni_L.jpg

光纖光譜儀QE65PRO HR4000

 

QE65PRO-1 /QE65PRO-2

探測器類型:背照式面陣

信噪比:1000 : 1

探測范圍:240-420/420-775 nm

分辨率:0.3/0.6 nm

 

HR4000-1/HR4000-2

探測器類型:線陣CCD

信噪比:300 : 1

探測范圍:220-665/660-1080 nm

分辨率:0.5 nm

 

應用領域:真空室鍍膜、材料成分檢測、熒光測試、實驗過程實時監控、動力學研究。

 

激光誘導瞬態光譜測試系統

LP980

 

可實現檢測功能:

瞬態吸收、激光有道熒光、激光誘導擊穿光譜、拉曼光譜

 

光源波長:

Probe 230-900nm

Pump 210-2600nm

光譜探測波長:230-870 nm

光譜分辨率: 0.56nm

靈敏度(OD值):<0.0005(單次、慢檢)

雜散光抑制比: 1:105

 

應用領域:瞬態吸收、激光誘導熒光、激光誘導擊穿光譜、拉曼光譜、反應速率研究、三重態-三重態猝滅、電荷載流子動力學、時間分辨光譜、激光誘導擊穿光譜等。

 

625_ext_07_1_L.jpg

熒光光譜測試系統

FLS980

 

可實現測試功能:

激發譜、發射譜、同步熒光譜、3D熒光譜、熒光壽命、量子產率

 

波長范圍(可拓展):

Ex:200-2000 nm

Em:200-1010 nm

光子計數率:100 MHz

波長準確度: ± 0.2 nm

分辨率min0.05 nm

信噪比@Water Raman

≥ 12000:1

 

應用領域:激發光譜、發射光譜、同步熒光譜、3D熒光譜、熒光壽命、材料特性分析及相關光學性能研究。

 

 
 
 
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