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微納結構分析平臺

微納結構分析平臺

副標題:

設備圖片

設備/型號

簡介

場發射掃描電子顯微鏡

Apreo S

 

測試項目:透射、表面形貌觀察、微區元素定性及半定量分析(微區元素的線分布、面分布)。

 

測試范圍:

二次電子像分辨率:0.7nm15kV高、低真空)
STEM
像分辨率:0.6nm30kV高真空)  
EDS
能量分辨率(Mn-Ka)129eV

 

應用領域:材料、物理、生物、化學、熱能、環境、地球科學、光電子等領域;粉末、微粒樣品形態測定;金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導體、紙張、塑料、食品、農作物、細胞等材料的顯微形貌分析。

 

掃描電子顯微鏡 - 能譜儀

Hitachi  SU1510

 

測試項目:表面形貌觀察、微區元素定性及半定量分析(微區元素的線分布、面分布)。

 

測試范圍:

二次電子分辨率:3.0 nm(高真空,30 kV)

背散射電子分辨率:4.0 nm(低真空,30 kV)

EDS能量分辨率:125 eV(Mn Kα)

 

應用領域:材料、物理、生物、化學、熱能、環境、地球科學、光電子等領域;粉末、微粒樣品形態測定;金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導體、紙張、塑料、食品、農作物、細胞等材料的顯微形貌分析。

 

 

 

 

 

 

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