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設備/型號

簡介

場發射掃描電子顯微鏡

Apreo S

測試項目：透射、表面形貌觀察、微區元素定性及半定量分析（微區元素的線分布、面分布）。

測試范圍：

二次電子像分辨率：0.7nm（15kV高、低真空）
STEM像分辨率：0.6nm（30kV高真空）  
EDS能量分辨率(Mn-Ka)：129eV

應用領域：材料、物理、生物、化學、熱能、環境、地球科學、光電子等領域；粉末、微粒樣品形態測定；金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導體、紙張、塑料、食品、農作物、細胞等材料的顯微形貌分析。

掃描電子顯微鏡 - 能譜儀

Hitachi  SU1510

測試項目：表面形貌觀察、微區元素定性及半定量分析（微區元素的線分布、面分布）。

測試范圍：

二次電子分辨率：3.0 nm(高真空，30 kV)

背散射電子分辨率：4.0 nm(低真空，30 kV)

EDS能量分辨率：125 eV(Mn Kα)

應用領域：材料、物理、生物、化學、熱能、環境、地球科學、光電子等領域；粉末、微粒樣品形態測定；金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導體、紙張、塑料、食品、農作物、細胞等材料的顯微形貌分析。