微納結構分析平臺
副標題:
設備圖片
設備/型號
簡介
場發射掃描電子顯微鏡
Apreo S
測試項目:透射、表面形貌觀察、微區元素定性及半定量分析(微區元素的線分布、面分布)。
測試范圍:
二次電子像分辨率:0.7nm(15kV高、低真空) STEM像分辨率:0.6nm(30kV高真空) EDS能量分辨率(Mn-Ka):129eV
應用領域:材料、物理、生物、化學、熱能、環境、地球科學、光電子等領域;粉末、微粒樣品形態測定;金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導體、紙張、塑料、食品、農作物、細胞等材料的顯微形貌分析。
掃描電子顯微鏡 - 能譜儀
Hitachi SU1510
測試項目:表面形貌觀察、微區元素定性及半定量分析(微區元素的線分布、面分布)。
二次電子分辨率:3.0 nm(高真空,30 kV)
背散射電子分辨率:4.0 nm(低真空,30 kV)
EDS能量分辨率:125 eV(Mn Kα)